摘要
高透光性氧化锆等级（4Y-和5Y-PSZ）相比传统3Y-TZP具有美学优势，但其弯曲强度有所降低，这引发了对连接器尺寸减小的修复体的担忧。目前尚不清楚通过标准化试样测试所测得的双轴弯曲强度是否能转化为几何结构复杂的多单元桥的抗断裂性能。本研究比较了三种氧化锆等级（3Y-TZP、4Y-PSZ和5Y-PSZ）的双轴弯曲强度（DIN EN ISO 6872:2015，n = 45）与由相同三种氧化锆等级制成的、带有故意缩小连接器的整体式五单元固定牙桥的断裂行为（n = 24，牙齿33–37）。采用有限元分析比较模拟弹性应力分布与实验观测到的断裂位置。三组间双轴弯曲强度差异显著（3Y-TZP：1406.5 ± 133.3 MPa，4Y-PSZ：1146.9 ± 215.9 MPa，5Y-PSZ：657.0 ± 137.5 MPa；p < 0.001）。相比之下，不同氧化锆等级间的桥体断裂载荷差异较小（3Y-TZP：542.1 ± 44.9 N，4Y-PSZ：466.6 ± 116.6 N，5Y-PSZ：372.1 ± 32.1 N）。仅5Y-PSZ的断裂载荷显著低于3Y-TZP（p < 0.001），而4Y-PSZ与3Y-TZP（p = 0.253）或5Y-PSZ（p = 0.129）均无显著差异。所有桥体最初均在缩小的连接器处发生断裂，与有限元分析中预测的最高拉伸应力位置一致。对于这种故意缩小的连接器，3Y-TZP与4Y-PSZ之间的双轴弯曲强度差异并未按比例转化为断裂载荷的显著差异。有限元分析正确识别了断裂关键部位——连接器，但未能预测断裂载荷，因为模拟结果是根据实验断裂载荷值进行标定的。
