低载荷添加剂调控LCD光固化3D打印SiOC陶瓷Schwarz点阵的高温力学与氧化耐受性

《Materials Advances》:3D-printed additive-modified SiOC ceramic lattices for high-temperature mechanical performanceOpen Access

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年11月04日 来源:Materials Advances 5.8

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  研究人员利用液晶显示(LCD)式 vat-photopolymerization(MSLA/LCD 面曝光光固化)技术,以聚乙烯基甲氧基硅氧烷(VMM-010)为硅氧碳(SiOC)前驱体,制备了含有低载荷(0.2–1 wt%)三类化学特性迥异添加剂的 Schw

  
研究人员利用液晶显示(LCD)式 vat-photopolymerization(MSLA/LCD 面曝光光固化)技术,以聚乙烯基甲氧基硅氧烷(VMM-010)为硅氧碳(SiOC)前驱体,制备了含有低载荷(0.2–1 wt%)三类化学特性迥异添加剂的 Schwarz 点阵:氧化铝(Al?O?)、碳化硅(SiC)与硬脂酸锌(ZnSt)。通过点阵结构在1200 °C 热解前后的流变学、收缩率、密度、微计算机断层扫描(micro-CT)、物相与成分表征,以及准静态压缩结合数字图像相关(DIC)分析,并在1500 °C 空气中氧化2 h后复测性能。结果表明:1200 °C 热解后各类点阵均保持尺寸稳定性与拓扑完整性,名义杆径0.8–2.8 mm范围内无明显宏观畸变;低载荷添加剂可使特定配方的能量吸收提升约10–20%,比刚度与比强度基本持平。1500 °C 氧化后所有配方仍具承载能力,优选配方可保留约75%峰值力、约70%刚度与约65%能量吸收。相分析与成分分析显示氧化响应由SiOC基体主导,氧富集主要局限于表层;添加剂主要调控局部缺陷演化而非体相物相重构。缺陷密度–性能关联表明,热暴露后力学表现取决于表观点阵密度、缺陷发展、特征厚度与添加剂种类,而非单纯添加剂载荷。该研究建立了低载荷添加剂空间内“工艺–微观结构–性能”的调控框架。
研究背景与问题提出
聚合物衍生陶瓷(PDC,polymer-derived ceramics)以预陶瓷聚合物(PCP,preceramic polymer)为前驱体,兼具陶瓷耐高温、化学稳定与高分子可加工优势。通过光固化增材制造可将复杂点阵结构一体化成型,再经热解转化为轻质承力构件,在航空航天、热防护与能源场景中具潜力。然而该体系长期受限于热解诱发的孔隙、收缩缺陷、本征脆性与裂纹敏感;同时,陶瓷颗粒或金属盐添加剂对SiOC点阵微观结构演化和高温服役行为的影响机制尚不清晰,尤其缺乏在低载荷、可打印窗口内的系统评价。
研究人员以VMM-010基SiOC前驱体为平台,引入Al?O?、SiC与ZnSt三类低载荷(0.2、0.6、1 wt%)添加剂,采用LCD(MSLA)打印Schwarz-G点阵,经1200 °C氮热解后,结合多尺度表征与力学测试,并在1500 °C空气氧化2 h后评估幸存性与性能保留。结论表明:低载荷添加剂可在不破坏打印性与尺寸稳定性的前提下,调控局部缺陷与高温力学响应;氧化损伤由基体主导、表层氧富集控制,添加剂通过微观结构通道而非体相改性或单纯浓度起作用。该工作为极端环境下轻量化架构陶瓷的配方—结构协同设计提供了可复用框架。
主要关键技术方法
研究人员采用MSLA(masked stereolithography,掩模面曝光光固化)打印统一G40-t1030与梯度Schwarz-G点阵;以光流变仪表征405 nm固化动力学;热解于流动氮气中按1 °C/min升至1200 °C并分段保温;力学上依据准静态单轴压缩(0.5 mm/min)配合ARAMIS立体DIC获取全场应变;内部缺陷用micro-CT(10 μm体素)分割量化;成分与物相分别用SEM-EDX、LIBS与XRD;高温氧化在箱式炉静态空气中1500 °C保持2 h,前后称质量并复测压缩性能。样本为同批次打印n=3重复,无外部临床或生物样本队列。
研究结果
3.1 聚合物表征
通过光流变学研究发现,未填充与含1 wt%添加剂配方均在光照后G′迅速超越G″并形成弹性平台;SiC体系初始黏度与结构化程度最高,Al?O?次之,ZnSt接近基线。结论:低载荷添加剂不改变基本交联机制,但SiC因吸光与悬浮结构使工艺窗口最窄。
3.2 热解后收缩、密度与成分
所有点阵平均线收缩约29–33%,无单调载荷依赖;氦吡啶密度由基线2.078 g/cm3升至添加剂体系2.17–2.19 g/cm3,反映添加剂相与局部孔隙可及性差异。SEM-EDX显示基体中Si–O–C–S框架保留,Al/Zn低于定量限,说明添加剂不以体相化学重构为主。
3.3 1200 °C后微观缺陷(micro-CT)
梯度点阵(0.8–2.8 mm)拓扑完整,可分辨缺陷体积极低,厚区无优先开裂;添加剂主要引起杆尺度局部异质,而非宏观畸变。
3.4 1200 °C准静态压缩
绝对峰值力、刚度与吸能部分低载荷配方优于基线,0.2 wt%三添加剂均提升绝对能量吸收;按表观密度归一后比性能相近,说明增益来自陶瓷分数与缺陷演化的竞争,而非本征效率跃升。
3.5 1500 °C氧化与后暴露力学
氧化后质量损失通常<1.1%,但性能退化明显;基线吸能衰减最大,SiC配方力与刚度保留较好,1 wt% Al?O?峰力损失最小,ZnSt绝对峰力最高但相对降幅大。DIC显示变形仍局域带化、Schwarz机制保留。XRD见弱方石英SiO?与β-SiC晶相,LIBS证实氧表层富集。缺陷–性能关联依赖表观密度、特征厚度与添加剂类型。
讨论与结论翻译
讨论指出,低载荷添加剂的价值不在“强化填料”式增强,而在可打印窗口内调节局部缺陷、收缩均匀性与氧化后裂纹传播;后暴露性能由表观点阵密度、缺陷发展、特征厚度与添加剂化学共同决定,而非添加剂质量分数单独控制。氧化响应矩阵主导,添加剂仅微调局域演化。
结论如下:低载荷(≤1 wt%)Al?O?、SiC与ZnSt可融入LCD打印SiOC体系,维持打印性、尺寸稳定与点阵完整性;selected低载荷可提升热解态能量吸收约10–20%,1500 °C氧化后优选配方保留约75%峰值力、约70%刚度与约65%吸能;性能保持由“工艺–微观结构–性能”链调控,该框架支持面向高温承力环境的架构化SiOC陶瓷低载荷配方设计。
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