《JOURNAL OF MATERIALS PROCESSING TECHNOLOGY》:Interfacial contact and stack compliance effects on keyhole instability and defect formation in multilayer laser welding
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时间:2026年11月04日来源:JOURNAL OF MATERIALS PROCESSING TECHNOLOGY 7.9
主要技术方法:研究人员在APS 32-ID光束线搭建in-house激光焊装置,使用1070 nm连续光纤激光(功率400–800 W,扫描速度20–100 mm s?1,光斑70 μm),在环境空气无保护气下焊接;通过operando高速同步辐射X射线放射成像(LuAG:Ce闪烁体+高速相机)实时记录小孔、熔池与孔隙;用ImageJ手动分割量化孔隙数、小孔宽深与界面间隙,Python做归一化缺陷指标;以准静态压缩测试(Instron,50 N载荷单元,0.1 mm min?1)比较堆栈柔顺性(compliance,贯穿厚度变形抗力代理指标);焊后采用ex-situ X射线计算机断层扫描(CT)核查熔深与缺陷形貌。样本队列为GM协同定义的工业相关多层Al箔配置:未固结、USW预固结、加工态USW,以及反向装配(基板在上)。
研究结果:
3.1 孔隙形成受控于箔–tab界面处小孔不稳定性:operando序列显示,孔隙优先成核于小孔尾迹熔池区,随熔流迁移、破碎并再合并;高线性能量密度(LED,linear energy density)下小孔更深、波动更强,孔–小孔交互频繁。未固结堆栈平均孔数与孔径最小,USW类配置孔隙群聚更显著,说明界面状态而非仅LED决定气孔演化。