针对嵌入式设备状态监测的硬件高效系统状态检测技术

《IEEE Sensors Letters》:Hardware-efficient System State Detection for Embedded Condition Monitoring

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年04月17日 来源:IEEE Sensors Letters 2.2

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   摘要: 设备与控制系统的状态监测能够降低维护成本,并且所需的计算资源比机器学习方法更少。为了在传感器或小型边缘设备上集成监测电路,从而进一步减少计算和通信开销,本研究提出了一种简化的硬件实现方案——TCAM(Teredo Condition Assessment M

  

摘要:

设备与控制系统的状态监测能够降低维护成本,并且所需的计算资源比机器学习方法更少。为了在传感器或小型边缘设备上集成监测电路,从而进一步减少计算和通信开销,本研究提出了一种简化的硬件实现方案——TCAM(Teredo Condition Assessment Machine),并将其与传统的实现方式进行比较。此外,通过对样本位宽度的分析,研究了位宽度对门电路数量和准确性的影响。在选定的案例研究中,门电路数量减少了57%,所需内存大小减少了约86%,同时系统状态检测的准确度仍然保持不变。以一个液压监测应用为例:该应用监控四个输入信号,并使用9位数字表示方式来实现合理的准确度,使用TCAM方案只需1918个逻辑门和3092位RAM即可完成相应功能。
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