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针对嵌入式设备状态监测的硬件高效系统状态检测技术
《IEEE Sensors Letters》:Hardware-efficient System State Detection for Embedded Condition Monitoring
【字体: 大 中 小 】 时间:2026年04月17日 来源:IEEE Sensors Letters 2.2
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摘要: 设备与控制系统的状态监测能够降低维护成本,并且所需的计算资源比机器学习方法更少。为了在传感器或小型边缘设备上集成监测电路,从而进一步减少计算和通信开销,本研究提出了一种简化的硬件实现方案——TCAM(Teredo Condition Assessment M