《IEEE Microwave Magazine》：2026 Spring/Summer ARFTG Microwave Measurement Conference
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本文介绍了将于2026年举办的ARFTG第107届微波测量会议。面对下一代通信、量子器件及智能系统对更高频率、更宽带宽、更复杂环境（如低温）测量的迫切需求，本次会议聚焦“测量未来”主题，旨在探讨RF至亚太赫兹频段的校准、溯源、不确定度评估等计量挑战，以及非线性、片上测量等关键技术。会议通过单轨技术报告与互动论坛结合的形式，促进学术界、工业界与计量专家的深度交流，为未来高可靠性系统的设计、验证与部署提供关键的测量学支撑。
想象一下，未来的世界被智能设备、超高速通信网络和神秘的量子计算机所充斥。要让这些尖端科技从蓝图变为现实，一个核心挑战横亘在工程师和科学家面前：我们如何“看见”并精确测量那些在导线和芯片中以光速穿梭、频率高得惊人的电磁信号？特别是在毫米波、亚太赫兹乃至量子领域，传统测量手段常常力不从心，信号微弱、环境复杂、干扰繁多，使得精准计量成为制约技术突破的瓶颈。2026年春季，在美国波士顿，第107届自动射频技术组（ARFTG）微波测量会议（ARFTG-107）将汇聚全球测量领域的精英，共同应对这一“测量未来”的挑战。
本次会议与2026年IEEE国际微波研讨会（IMS2026）同期举行，主题定为“测量未来：面向智能、互联与量子世界的高频计量学”。这一主题精准地捕捉了时代的脉搏。随着5G/6G通信、物联网（IoT）、人工智能（AI）和量子信息技术的飞速发展，对射频（RF）、微波、毫米波和亚太赫兹频率的测量提出了前所未有的高要求。未来的系统不仅需要在更高的频率、更宽的带宽下工作，还常常涉及极低信号电平的检测，甚至要在接近绝对零度的低温环境中稳定运行，以服务于量子计算和射电天文等前沿领域。此外，系统集成度日益提高，混合信号、光电集成等复杂平台的出现，使得测量不再是简单的端口连接，而是需要深入到芯片内部（on-wafer），并考虑非线性、时变等复杂效应。如果无法确保测量的准确性、可靠性和可追溯性，那么任何先进系统的设计、验证与最终部署都将建立在沙土之上。因此，ARFTG-107致力于成为解决这些核心测量难题的论坛，推动计量学本身的发展，从而为整个高频技术生态的繁荣奠定坚实基石。
为了深入探究这些挑战，与会的研究人员和工程师们将围绕一系列关键议题展开交流。会议的技术程序将涵盖从基础计量学到应用技术的广泛内容，重点包括为新兴通信、传感和量子系统服务的高频计量学、溯源与校准技术。具体而言，将探讨测量仪器的进展、宽带与低电平信号表征方法，以及支持复杂集成平台的测量方案。长期备受关注的重点领域，如片上校准与测量、射频与数字混合信号表征、电光/光电（EO/OE）接口与光子集成电路、材料特性测量、毫米波天线、空口（OTA）测试与可重构智能表面（RIS）测试，以及测量不确定度与计量学基础的新近发展，都将在会议中得到充分讨论。尤为值得关注的是，针对量子技术与射电天文应用的低温测量、非线性与大信号表征，以及人工智能赋能的微波测量系统等新兴交叉方向，也将是会议的热点。这些讨论不仅关注“如何测”，更关注“测得多准”以及“如何保证测量的可比性”，即计量溯源性问题。
在研究方法上，本次会议报告的研究工作预计将涉及多个关键技术领域。首先是先进的校准与计量学技术，包括在片（on-wafer）测量中的多线线径（multiline TRL）校准、误差框模型（error-box model）的完善，以及用于亚太赫兹频段的计量级矢量网络分析（VNA）校准方案，以确保从射频到亚太赫兹的测量溯源至国际单位制（SI）。其次是非线性矢量网络分析（NVNA）与大信号测量技术，通过谐波相位参考和X参数（X-parameters）等，对功率放大器、混频器等有源器件的非线性行为进行精确建模与表征。第三是面向新兴应用的专用测量系统，例如用于超导量子比特表征的低温探针台测量、用于太赫兹通信的超宽带信道探测（channel sounding），以及结合人工智能算法（如机器学习）进行测量数据优化和误差校正的方法。最后是系统级与空口（Over-the-Air, OTA）测试方法，针对集成天线模块和可重构智能表面（Reconfigurable Intelligent Surface, RIS），研究在微波暗室中进行的远场/近场辐射特性测量与性能评估方案。这些方法共同构成了应对未来高频测量挑战的技术工具箱。
会议的技术成果将通过精心安排的程序进行展示与交流。ARFTG-107将采用单轨技术程序，将所有口头报告集中于同一会场，确保所有与会者共享统一的技术体验。这种安排有利于聚焦核心议题，促进深入理解。同时，会议将安排互动式海报环节，为研究人员，特别是学生和青年学者，提供与同行进行一对一、面对面深度讨论其工作的宝贵机会。这种形式鼓励对新兴概念和成熟技术 alike 进行细致探讨。此外，贯穿全天的延长休息时间将与展览和互动论坛紧密结合，为与会者与仪器供应商以及其他参会者进行直接交流创造了专属时空。这种结构是ARFTG会议的一大特色，旨在 fostering 详细的讨论、非正式的交流网络，以及测量社区内研究人员、从业者、学生和专家之间思想的相互启发。除了核心会议，ARFTG-107还将设立非线性矢量网络分析（NVNA）用户论坛和片上测量用户论坛。这些论坛针对专业测量主题，鼓励就实际挑战、新兴技术和最佳实践进行聚焦式、深入的交流，延续了ARFTG长期坚持的开放技术对话传统。通过这样的多元交流形式，会议有效地促进了知识的传播与碰撞。
归纳而言，第107届ARFTG微波测量会议是一次专注于高频测量科学前沿的深度集会。其核心结论与重要意义在于，它明确了在当前向智能、互联和量子时代演进的技术浪潮中，高频计量学是确保技术进步可靠性的基石。会议达成的共识是，应对未来测量挑战需要从多个维度协同推进：在理论基础上，必须不断夯实计量溯源性与不确定度评估框架，特别是在极端条件（如低温、超高频率）下；在技术方法上，需大力发展非线性测量、在片集成测量和智能化的测量数据处理技术；在社区生态上，则需要加强仪器专家、系统工程师、学术界与国家计量机构之间的紧密合作。ARFTG通过其独特的单轨紧凑议程、强调互动的论坛模式以及与IMS大型会议的协同，成功营造了一个利于深度技术讨论和社区建设的独特环境。这不仅加速了具体测量问题的解决方案共享，更重要的是，它培养了下一代测量专家，通过学生赞助计划和Roger Pollard学生纪念奖学金等项目，鼓励学生积极参与并投身于这一关键领域。最终，本次会议及其所代表的努力，旨在确保随着我们不断“测量未来”，我们手中用以丈量这个世界的尺子，本身是精准、可靠且不断进步的，从而为未来所有基于高频技术的创新系统提供可信的验证与保障。
