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离散事件系统故障诊断的广义传感器映射技术
《IEEE Transactions on Automation Science and Engineering》:Generalized Sensor Mapping for Fault Diagnosis of Discrete Event Systems
【字体: 大 中 小 】 时间:2026年04月23日 来源:IEEE Transactions on Automation Science and Engineering 6.4
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摘要: 设计工业工厂故障诊断系统的首要步骤是获得一个能够描述正常状态和故障状态的模型。在离散事件系统(DES)的故障诊断背景下,传感器映射(SM)是用于获取自动机模型的主要工具。SM通过将摩尔自动机(其传感器读数作为状态输出)转换为米利自动机来实现,其中与传感器读数相关的事件被