离散事件系统故障诊断的广义传感器映射技术

《IEEE Transactions on Automation Science and Engineering》:Generalized Sensor Mapping for Fault Diagnosis of Discrete Event Systems

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年04月23日 来源:IEEE Transactions on Automation Science and Engineering 6.4

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   摘要: 设计工业工厂故障诊断系统的首要步骤是获得一个能够描述正常状态和故障状态的模型。在离散事件系统(DES)的故障诊断背景下,传感器映射(SM)是用于获取自动机模型的主要工具。SM通过将摩尔自动机(其传感器读数作为状态输出)转换为米利自动机来实现,其中与传感器读数相关的事件被

  

摘要:

设计工业工厂故障诊断系统的首要步骤是获得一个能够描述正常状态和故障状态的模型。在离散事件系统(DES)的故障诊断背景下,传感器映射(SM)是用于获取自动机模型的主要工具。SM通过将摩尔自动机(其传感器读数作为状态输出)转换为米利自动机来实现,其中与传感器读数相关的事件被集成到系统模型中。然而,SM存在以下缺点:(i) 它仅限于与单个传感器读数相关的状态;(ii) 由于与命令和传感器读数相关的信息被合并到一个事件中,可能会导致对监控系统状态的实时估计不准确。在本文中,我们对SM建模工具进行了改进,提出了广义传感器映射(GSM)方法,该方法没有上述限制。在所提出的GSM中,与传感器和执行器相关的事件是分开的。此外,GSM也可以用于那些状态输出与多个读数相关的摩尔自动机。通过一个实际例子来说明所提方法的效率。
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