利用电阻层析成像技术对忆阻纳米线网络中的导电性进行绘图与追踪

《IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement》：Mapping and Tracking Conductivity in Memristive Nanowire Networks with Electrical Resistance Tomography

　　

摘要：

近年来，电阻层析成像（ERT）技术已成功应用于薄膜材料和石墨烯的电导率测量。除了能够绘制静态电导率分布图外，ERT还被提出作为研究具有动态特性的忆阻材料的新工具——这类材料的电导率会随着外部刺激的变化而变化。在本研究中，我们展示了ERT技术可以揭示忆阻金属纳米线网络中的电导率分布及其随时间的变化情况，甚至可以利用ERT设备本身来可视化样品中产生的导电路径。