一款400×400像素、3.24微米大小、动态范围为117 dB的三层堆叠式数字像素传感器,采用三重量化技术和固定模式噪声校正功能

《IEEE Transactions on Electron Devices》:A 400×400 3.24-μm 117-dB Dynamic Range Three-Layer Stacked Digital Pixel Sensor With Triple Quantization and Fixed Pattern Noise Correction

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年05月08日 来源:IEEE Transactions on Electron Devices 3.2

编辑推荐:

   !----> 摘要: 本文介绍了一种数字像素传感器(DPS),其像素间距为3.24 μm,采用45 nm/40 nm/40 nm的三层堆叠工艺制造。该传感器通过重叠三重量化(3Q)、固定模式噪声校正(FPN-C)和黑电平校正(BLC)实现了单次曝光高动态范围(SEHDR)

  
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摘要:

本文介绍了一种数字像素传感器(DPS),其像素间距为3.24 μm,采用45 nm/40 nm/40 nm的三层堆叠工艺制造。该传感器通过重叠三重量化(3Q)、固定模式噪声校正(FPN-C)和黑电平校正(BLC)实现了单次曝光高动态范围(SEHDR)。芯片上集成了图像信号处理器(ISP),以支持缺陷像素校正(DPC)、SEHDR线性化和伽马校正。此外,采用了稀疏传输(ST)技术来减少传输数据量,从而降低传输功耗。该传感器采用具有两层重分布层(RDL)的晶圆级芯片封装(WLCSP),使得其外形尺寸非常紧凑。在30帧每秒(fps)的帧率下,该传感器的动态范围(DR)达到117 dB,功耗仅为2.45 mW,因此其优值(FoM)为0.0046。!----
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