GIMOXS：一种新型光谱仪，用于在实验室中利用GIXRF技术对含有轻元素的纳米材料进行无损表征

《Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy》：GIMOXS: A new spectrometer for GIXRF-based, non-destructive characterization of light element containing nanomaterials in the laboratory

　　

克尔斯滕·B·西伯斯（Kirsten B. Siebers）|弗洛里安·梅勒（Florian Meirer）|莉克·E·M·范登布尔格（Lieke E.M. van den Burg）|帕特里克·克劳斯（Patrick Kraus）|伯特·M·韦克胡森（Bert M. Weckhuysen）|彼得·沃布拉乌谢克（Peter Wobrauschek）|克里斯蒂娜·斯特雷利（Christina Streli）|迪特尔·英格勒（Dieter Ingerle）

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  GIMOXS光谱仪的发展使得在同一实验室设备中同时进行透射X射线荧光（TXRF）和激发X射线荧光（GIXRF）成为可能。
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  该光谱仪的模块化设计优化了对轻元素和高Z元素的激发效果。
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  利用参考样品，在TXRF分析中实现了皮克级的检测限。
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  角度依赖性的GIXRF技术能够用于分析块状、层状和纳米颗粒样品。
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  GIMOXS在纳米材料研究领域展现出巨大潜力。