原子力显微镜(AFM)是纳米级表面形貌分析不可或缺的工具,因其高分辨率和操作简便性而备受青睐(Giessibl?, 2003)。在材料科学中,AFM对于表征有机电子材料尤为重要。例如,在OLED和OPV中的电荷传输特性直接与薄膜的微观形态相关(Li et al., 2012)。通过精确捕捉晶体畴大小、相分离和表面粗糙度等特征,AFM为材料优化提供了直接证据。此外,它还能动态追踪失效机制,如柔性器件中的裂纹扩展(Kaltenbrunner et al., 2013)。这些后续定量分析的可靠性完全依赖于原始AFM图像的保真度(Ma et al., 2010)。
然而,原始AFM图像常常受到随机噪声、线状噪声和疤痕噪声等多种噪声类型的干扰(Tian et al., 2015)。这种混合噪声对地形保真度构成了严峻挑战,因为其特性可能与分析所需的细微纹理细节相似。传统的去噪方法(如中值滤波(Li and Fan, 2002, Zhang et al., 2007)和小波变换(Donoho, 2002)在抑制噪声和保留细节之间难以取得平衡,常常导致过度平滑或残余伪影。
深度学习方法显示出潜力。现有模型在应用于AFM数据时存在明显局限。尽管DnCNN(Zhang et al., 2016)和DenseNet(Huang et al., 2016)等架构功能强大,但容易发生“过度平滑”,从而抹去关键的纳米级特征。在显微镜学背景下,过度平滑不仅仅是视觉缺陷;它是一种系统性误差,会人为地使纳米级特征变得平坦,并扭曲均方根(RMS)粗糙度等关键物理参数。像FFDNet(Zhang et al., 2018)这样的模型需要噪声水平估计,可能无法很好地适应AFM中存在的空间变化和非平稳噪声。此外,自监督方法(例如Noise2Noise(A et al., 2019)、Noise2Void(Krull et al., 2019))虽然减少了了对干净数据的需求,但往往无法区分细微的地形细节和噪声,从而影响了AFM分析的高保真度要求。因此,迫切需要一种专门针对AFM图像独特混合噪声特征的去噪方法。
为了弥合计算机视觉和纳米级测量之间的差距,我们提出了MS-HINet-CBAM,这是一种专为AFM成像的物理特性量身定制的新型多阶段深度学习架构。在强大的半实例归一化网络(HINet)框架基础上,我们的设计引入了协同的双组分增强机制。首先,由于AFM线状伪影沿快速扫描轴具有强烈的空间相关性,我们引入了多尺度(MS)并行模块来提取和抑制不同感受野中的长程伪影特征。其次,为了有效解决普遍存在的过度平滑问题,我们整合了卷积块注意力模块(CBAM)。通过动态重新加权通道和空间注意力,该网络优先保留真实的地形高频细节(如晶界和聚合物链),同时过滤掉噪声。
在精心模拟的混合噪声数据集和真实世界原始AFM地形上的广泛评估证明了MS-HINet-CBAM的优越性。除了在传统像素级指标(PSNR和SSIM)和视觉清晰度方面达到最先进水平外,我们的主要贡献在于确保了形态保真度。对表面粗糙度的定量评估表明,我们的模型有效防止了由寄生平滑引起的表面统计退化。在有机分子和细菌细胞的真实记录上进行验证,这项工作超越了传统的图像去噪方法,为材料和生命科学领域的先进定量分析提供了物理上可靠、高保真的计算工具。