铥掺杂碱土氟化物(Tm-doped alkaline-earth fluoride hosts)中辐照增强的Tm2+形成及热激活再转化(Thermally-activated reconversion)

《Radiation Physics and Chemistry》:Radiation-enhanced Tm2+ formation and thermally-activated reconversion in Tm-doped alkaline-earth fluoride hosts

【字体: 时间:2026年06月09日 来源:Radiation Physics and Chemistry 3.3

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  采用垂直布里奇曼-斯托克巴杰(Vertical Bridgman-Stockbarger)法生长了不同TmF3掺杂浓度(0.1、0.5、1、5 mol%)的纯氟化钙(CaF2)与氟化钡(BaF2)单晶,并在室温(RT)下经连续X射线辐照。未辐照CaF2单晶的室

  
采用垂直布里奇曼-斯托克巴杰(Vertical Bridgman-Stockbarger)法生长了不同TmF3掺杂浓度(0.1、0.5、1、5 mol%)的纯氟化钙(CaF2)与氟化钡(BaF2)单晶,并在室温(RT)下经连续X射线辐照。未辐照CaF2单晶的室温光学吸收光谱显示出归属于Tm3+与Tm2+离子的特征吸收带,而BaF2单晶的吸收带仅归属于Tm3+离子;吸收带强度取决于TmF3掺入量及基质类型(CaF2或BaF2)。X射线辐照后,紫外-可见(UV-VIS)区吸收带发生明显改变,Tm2+吸收带增强且强度随辐照时间延长至4小时持续上升,表明在CaF2与BaF2中均发生了高效的Tm3+→Tm2+电荷转换过程。辐照后长达数百小时的衰减测量显示Tm2+吸收强度逐渐下降,提示Tm2+向Tm3+的部分再转化(Partial reconversion)。进一步在100–600 ℃范围内进行热退火(Thermal annealing),以探究Tm2+→Tm3+再转化的作用机制及其对光谱特性的影响。研究人员还进行了发射光谱测量,评估X射线辐照与热退火对TmF3掺杂碱土氟化物发光性能的影响。上述结果揭示了电离辐射对TmF3掺杂碱土氟化物晶体光学性质的作用,凸显其在辐射探测及相关技术中的潜在应用价值。
该研究发表于《Radiation Physics and Chemistry》。
一、研究背景与意义
稀土离子(RE3+,Rare-Earth ions)掺杂的氟化物基质因低声子能量、宽紫外-可见-近红外(UV-VIS-NIR)透光窗口及相对惰性化学环境,在发光、剂量计与光致变色领域具重要应用前景。碱土氟化物如CaF2与BaF2具萤石结构(fluorite structure),可容纳RE取代并保持良好晶质。通常在常氧条件下RE以三价态(RE3+)存在,但在辐照或还原条件下可发生部分RE3+→RE2+价态转换,二价稀土(RE2+)具独特吸收与发射带,可用于辐射传感、长余辉发光及色心稳定化。电离辐射在晶格中产生电子-空穴对(electron–hole pairs)与激子(excitons),RE3+捕获电子形成RE2+是重要俘获通道。Tm掺杂CaF2(商用名TLD-300)已有较多热释光(TL,Thermoluminescence)与光激励发光(OSL,Optically Stimulated Luminescence)剂量学研究,但仍存在关键空白:X射线诱导RE3+→RE2+转换动力学少有按剂量、掺杂浓度与温度定量;RE2+再转化——含热脱陷(thermal detrapping)、光电离及室温自发再氧化——研究范围有限;多数工作未区分Tm2+与其他缺陷中心贡献;缺乏不同基质间(CaF2vs BaF2)的时间分辨吸收追踪、再转化活化能提取及交叉对比。此外前期工作(Schornig et al., 2024; Stef et al., 2026)表明CaF2:Tm中可共存Tm3+/Tm2+,而高质量BaF2:Tm仅现Tm3+4f–4f跃迁,机理尚待厘清。因此Gabriel Buse、Marius Stef、Carla Schornig等研究人员开展本研究,系统探究X射线辐照诱导Tm价态转换及热激活再转化过程,以深化对机制的理解并支撑辐射探测与光开关材料应用。
二、主要关键技术方法
研究人员采用垂直布里奇曼-斯托克巴杰(Vertical Bridgman-Stockbarger)法生长掺杂0.1、0.5、1、5 mol% TmF3的CaF2与BaF2单晶。对晶体实施室温连续X射线辐照,通过紫外-可见(UV-VIS)分光光度计监测辐照过程中及辐照后数百小时内Tm2+与Tm3+特征吸收带强度演变以追踪价态转换与自发再转化衰减;对辐照后样品在100–600 ℃范围进行阶梯热退火并结合吸收谱观测Tm2+→Tm3+热激活再转化;采用荧光光谱仪测量发射光谱以评估辐照与退火对发光性质影响;对5 mol% TmF3掺杂CaF2、BaF2及商用TmF3粉末在4–295 K范围进行电子顺磁共振(EPR,Electron Paramagnetic Resonance,X波段)检测以佐证价态与局域环境。
三、研究结果
Formation of divalent thulium (Tm2+) under X-ray irradiation(X射线辐照下二价铥(Tm2+)的形成)
未掺杂及掺杂CaF2单晶室温吸收光谱原本即显示Tm3+与Tm2+特征带,BaF2单晶仅见Tm3+4f–4f跃迁吸收带,吸收强度依赖TmF3掺杂浓度与基质。X射线辐照后UV-VIS区出现吸收带调制,Tm2+特征吸收带显著增强且随辐照时长增加(至约4 h)单调上升,证实在CaF2与BaF2中均发生高效Tm3++ e?→ Tm2+过程。EPR测试显示仅在≤60 K可检出信号,5 mol% TmF3掺杂CaF2与BaF2在30 K出现区别于商用TmF3粉末的谱形,佐证辐照产生的Tm2+中心及基质依赖的局域配位差异。时间分辨吸收监测表明辐照停止后Tm2+吸收带强度在数百小时内逐渐衰减,暗示部分Tm2+经电子释放发生再氧化为Tm3+(Tm2+→ Tm3++ e?),且CaF2与BaF2中衰减动力学存在差异,反映不同基质缺陷景观(host defect landscape)对RE2+稳定性的影响。
四、讨论与结论翻译(Conclusions浓缩总结)
研究人员通过结合X射线辐照、吸收与发射光谱及热退火过程,监测了布里奇曼-斯托克巴杰法生长的TmF3掺杂CaF2与BaF2单晶中Tm2+中心的形成、稳定性与衰减行为。结果表明:(1) X射线辐照可在两种基质中诱导Tm3+→Tm2+价态转换,Tm2+吸收随辐照时间增至饱和;(2) 辐照终止后Tm2+吸收缓慢衰减,证实室温下存在部分Tm2+→Tm3+自发再转化;(3) 100–600 ℃热退火加速再转化并使吸收谱恢复接近初始态,不同基质再转化效率与热激活行为各异,与晶格参数、阴离子空位缔合及RE 4f/5d能级相对导带位置有关;(4) 发射光谱变化与吸收演变相对应,反映价态分布改变对发光性能的影响。该工作量化了辐照诱导价态转换与热/自发再转化动力学,提供RE2+中心稳定性与基质效应的实验依据,对开发基于稀土掺杂氟化物的辐射探测器、剂量计及光可调光学材料具参考价值。
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