关于铌膜中高度垂直侧壁轮廓的刻蚀方法研究

《IEEE Transactions on Applied Superconductivity》:Study on Etching Methods for Highly Vertical Sidewall Profiles in Niobium Films

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年06月25日 来源:IEEE Transactions on Applied Superconductivity 1.8

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  摘要:铌(Nb)共面波导谐振器被广泛用于超导器件中,其较高的品质因数通常与更垂直的铌侧壁有关。在本研究中,采用感应耦合等离子体反应离子刻蚀技术来刻蚀铌。研究了包括ICP功率、极板功率、腔室压力以及气体成分在内的各种刻蚀参数,以了解它们对刻蚀后铌侧壁形状的影响。此外,还提出了两种优

  

摘要:

铌(Nb)共面波导谐振器被广泛用于超导器件中,其较高的品质因数通常与更垂直的铌侧壁有关。在本研究中,采用感应耦合等离子体反应离子刻蚀技术来刻蚀铌。研究了包括ICP功率、极板功率、腔室压力以及气体成分在内的各种刻蚀参数,以了解它们对刻蚀后铌侧壁形状的影响。此外,还提出了两种优化的工艺方案,以获得具有高垂直度的侧壁形状:一种为SF_6气体配方,另一种为SF_6/CF4混合气体配方。实验结果表明,在相对较低的腔室压力和相对较高的极板功率下,利用SF_6或SF_6/CF_4混合气体,能够得到角度为90° ±2°的近乎垂直的侧壁形状。
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