聚苯乙烯反点模板中渗透合成制备Al2O3环状阵列

《Advanced Materials Interfaces》:Al2O3 Ring Array by Infiltration Synthesis in Polystyrene Antidot Template

【字体: 时间:2026年07月24日 来源:Advanced Materials Interfaces 4.5

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  将嵌段共聚物(Block Copolymer, BCP)自组装与可控分子生长工艺即顺序渗透合成(Sequential Infiltration Synthesis, SIS)相结合,是一种极具前景的模板材料纳米制造策略。BCP薄膜的自组装可产生致密、有序的有机

  
将嵌段共聚物(Block Copolymer, BCP)自组装与可控分子生长工艺即顺序渗透合成(Sequential Infiltration Synthesis, SIS)相结合,是一种极具前景的模板材料纳米制造策略。BCP薄膜的自组装可产生致密、有序的有机纳米结构,可用作表面修饰层或图形转移的掩模。无机材料在这些纳米结构有机模板中的SIS由于金属前驱体在聚合物链反应性组分中的选择性结合,可形成有机/无机杂化材料。去除聚合物支架后,所得无机形貌可复制自组装BCP的形貌。在自组装聚苯乙烯-嵌段-聚甲基丙烯酸甲酯(Polystyrene-block-poly(methyl methacrylate), PS-b-PMMA)BCP中使用三甲基铝(Trimethylaluminum, TMA)和水(H2O)前驱体进行SIS是参照体系。为扩展与BCP相分离相关的形貌库,本研究利用聚合物模板的改性。研究人员将SIS应用于面外圆柱形成型PS-b-PMMA薄膜。在SIS之前,部分或完全去除反应性PMMA组分,形成PS反点阵列。氧(O2)等离子体开口步骤使最初无反应性的PS反点阵列表层具有反应性。六方排列仍得以保留,但渗透纳米结构呈现出独特的环状形貌。
研究背景与意义
在纳米制造领域,嵌段共聚物(Block Copolymer, BCP)微相分离能够形成球状、螺旋状、柱状及层状等多种有序纳米形貌,其特征尺寸可通过聚合链长度在亚50纳米范围内调控,这使其成为自下而上(bottom-up)图形化策略的重要研究对象。特别是垂直取向的PS-b-PMMA薄膜在去除其中一组分后,可作为添加或减损纳米制造的模板。顺序渗透合成(Sequential Infiltration Synthesis, SIS),亦称气相渗透(Vapor Phase Infiltration, VPI),源于原子层沉积(Atomic Layer Deposition, ALD),通过前驱体在聚合物基质中的吸附、扩散与捕获形成混合或纯无机材料。传统的SIS研究中,TMA选择性结合PMMA中的羰基,已在PS-b-PMMA体系中制备出Al2O3点阵或反点阵。然而,现有形貌库受限于BCP自身的相分离结构,如何通过模板表面化学的改性来拓展无机纳米结构的几何形态(如环状结构)仍是值得探索的方向。该研究发表于《Advanced Materials Interfaces》,研究人员通过在SIS前对PS反点阵列进行O2等离子体处理引入表面反应性,成功实现了六方排列Al2O3环状纳米结构的制备,为微电子兼容工艺如定向自组装(Directed Self-Assembly, DSA)提供了新型形貌库。
主要关键技术方法
研究人员选用周期性L0=43 nm及35.5 nm的垂直取向圆柱型PS-b-PMMA薄膜,在SiO2/Si或SiO2/TiN堆叠基底上通过中性刷层制备。关键步骤包括多孔开口工艺:紫外(Ultraviolet, UV)辐照降解PMMA并交联PS,醋酸(Acetic Acid, AA)湿法清洗去除碎片,以及不同时间(30-180 s)的O2等离子体干法处理以形成改性PS反点阵列。随后在商用ALD反应器中于90°C进行TMA与H2O的SIS循环(脉冲/暴露/吹扫步骤)。表征手段包括光谱椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometry, SE)测量厚度,平面扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscopy, SEM)分析横向尺寸,以及原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)观测表面调制与形貌。
研究结果
1 Introduction
研究人员综述了BCP自组装与SIS的基本原理,指出传统SIS依赖PMMA的反应性,而在完全去除PMMA后的纯PS模板中,若无表面处理,TMA无法与之反应。由此引出本研究核心:通过O2等离子体改性PS反点阵列表面,使其具备捕获金属前驱体的能力,从而获得不同于传统点阵或反点阵的新型环状结构。
2 Results and Discussion
研究人员对比了两种开口方案:仅UV+AA的AA last模板与增加O2等离子体的O2 plasma last模板。在AA last模板中,SIS后仅得到残留的六边形Al2O3残点(residual dots),且尺寸对SIS循环数不敏感,归因于孔底残留随机共聚物(Random Copolymer, RCP)及界面残余PMMA的有限反应性。而在O2 plasma last模板中,O2等离子体不仅清除了孔底RCP,还在PS表面形成了富含C-O键的改性层(modified PS),使孔壁具备反应性。随着等离子体时间(30、60、90 s)增加,孔径以0.045 nm/s增大,厚度以0.068 nm/s减小。对该模板进行4次SIS循环后,SEM与AFM图像明确显示出环形纳米结构,外直径约23.4 nm,内直径低于10 nm,环间凹陷约1 nm,环内深度约3.5 nm。系统研究显示,在3–7次SIS循环范围内,环状结构清晰,外直径恒定,厚度以约2 nm/cycle线性增加;1次循环时结构未完全定义;9–11次循环时表面逐渐闭合,呈现类反点阵列形态,内直径增大。这表明生长机制由孔壁双向扩散(孔内空间与皮下PS扩散)主导的二维表面生长,区别于传统PMMA内的三维生长。
结论部分总结翻译
研究人员将TMA与H2O前驱体的SIS应用于部分或完全去除反应性组分PMMA后形成的PS反点阵列之面外圆柱成型PS-b-PMMA BCP薄膜。结合不同开口步骤与SIS循环数,可获得不同Al2O3形貌,均保留圆柱型PS-b-PMMA自组装衍生的六方组织。仅用UV+AA去除PMMA时,孔隙未完全清理且PS反点模板仍无反应性,无论SIS循环数多少均获得Al2O3残点。然而,以不同时间O2等离子体步骤完成的开口工艺可实现孔隙完全清理并使PS表层具反应性,从而渗透改性PS反点阵列。这些变化导致3–7次SIS循环制成六方组织环,9–11次SIS循环制成类反点阵列。环状纳米结构内直径低于10 nm。综上,这些成果表明可通过改变聚合物基质表面反应性的方法扩展渗透BCP的形貌库。借此有机模板不仅可用作添加或减损纳米制造之掩模,亦可用作气相渗透之二维无机生长支架并具备非常规形貌。
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