基于快速随机游走与广义对立采样的电容提取方法

《ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems》：Faster Random Walk-based Capacitance Extraction with Generalized Antithetic Sampling

　　

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摘要

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近年来，基于随机游走的电容提取方法作为一种可靠的技术被用于提取超大规模集成电路中的寄生电容。作为一种蒙特卡洛方法，其性能取决于采样量的方差，而方差降低方法对于应对日益复杂的工艺技术和布局相关效应所带来的挑战至关重要。在本文中，我们提出了一种新的、通用的方差降低方法，用于基于随机游走的电容提取。该方法概念简单、效率极高，且能够有效降低所有提取过程中的方差，尤其是在存在布局相关效应时。该方法可补充现有的方差降低数学公式，其优势能在现有方法的基础上进一步体现。数值实验表明，与之前提出的最佳方差降低方法相比，该技术在所需随机游走次数以及实际提取时间方面都能实现高达50%的显著改进。

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