HotPROTON:面向多核系统热感知电迁移分析的体系级框架

《ACM Transactions on Architecture and Code Optimization》:HotPROTON: A System-Level Framework for Thermal-Aware Electromigration Analysis in Manycore Systems

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年08月31日 来源:ACM Transactions on Architecture and Code Optimization 2.9

编辑推荐:

   摘要AI 摘要要查看此 AI 生成的摘要,您必须具备高级访问权限。了解更多登录摘要摘要电迁移(EM)已成为现代多核系统中一个关键的可靠性问题,其驱动因素包括不断增长的功耗密度和热应力。现有的模型和工具通常仅在器件或互连层面进行操作,无法捕捉系统级准确分析所需的空间、时间和架构

  

摘要

摘要

电迁移(EM)已成为现代多核系统中一个关键的可靠性问题,其驱动因素包括不断增长的功耗密度和热应力。现有的模型和工具通常仅在器件或互连层面进行操作,无法捕捉系统级准确分析所需的空间、时间和架构变化。这一差距在大规模设计中尤为明显,因为局部电流拥塞、动态热分布以及依赖工作负载的电流模式之间的复杂相互作用会共同加速由电迁移引发的失效。为应对这些挑战,我们提出了 HotPROTON——一种将基于物理的电迁移建模与系统级热分布和依赖工作负载的电流特性相结合的整体方法。HotPROTON 是首个面向多核架构的完整基于物理的系统级电迁移分析框架。它紧密集成了 HotSniper(一种多核热与功耗模拟器)与 PROTON(一种基于物理的电迁移应力分析工具),实现了从工作负载执行到材料退化的全栈评估。重要的是,HotPROTON 纳入了温度感知的电迁移应力评估,其中热变化直接影响应力计算,从而用基于物理的退化方法取代了传统的经验模型。该框架引入了一个新颖的电源分配网络(PDN)生成模块,将模拟输出映射为物理上准确的 PDN 模型,从而实现瞬态感知的核心级分析。此外,所提出的工具用基于物理的失效时间(TTF)计算取代了经验模型,以确定相应的架构可靠性指标,即 R 值。使用 PARSEC 基准在多核系统上进行的实验验证表明,该框架能够准确预测各种工作负载场景下的可靠性极限和 R 值演变。

AI 摘要

AI 生成摘要(实验性)

本摘要由自动化工具生成,未经文章作者撰写或审阅。它旨在支持文献发现,帮助读者评估相关性,并协助来自相邻研究领域的读者理解该工作。它意在补充由作者提供的摘要,后者仍为本文的主要总结。全文版本仍是权威的记录版本。点击此处了解更多。

点击 此处 对此摘要的准确性、清晰度和实用性进行评论。您的反馈将有助于优化改进和后续重新生成的版本。

要查看此 AI 生成的简明语言摘要,您必须具备高级访问权限。

相关新闻
生物通微信公众号
微信
新浪微博
  • 搜索
  • 国际
  • 国内
  • 人物
  • 产业
  • 热点
  • 科普

热点排行

    今日动态 | 人才市场 | 新技术专栏 | 中国科学人 | 云展台 | BioHot | 云讲堂直播 | 会展中心 | 特价专栏 | 技术快讯 | 免费试用

    版权所有 生物通

    Copyright© eBiotrade.com, All Rights Reserved

    联系信箱:

    粤ICP备09063491号