基于PbS量子点探测器的单像素短波红外成像系统研究
《Materials》:Single-Pixel Shortwave Infrared Imaging Based on PbS Quantum Dots
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时间:2026年09月01日
来源:Materials 3.7
摘要
短波红外(SWIR)成像技术凭借其优异的穿透能力和抗干扰能力,在军事、医疗和工业领域得到广泛应用。然而,传统探测器(如InGaAs)价格昂贵、读出电路复杂,且低照度性能不足,限制了其大规模推广。本文提出并实现了一种基于硫化铅(PbS)量子点(QD)探测器的单像素短波红外成像系统。采用具有正式器件结构(ITO/ZnO/PbS/PbS-EDT/Au)的PbS量子点探测器构建了单像素成像系统;通过仿真研究,考察了PbS吸收层厚度对器件性能的影响,确定450 nm的厚度可获得最佳器件性能。基于仿真结果,制备了一种具有高外部量子效率(EQE)和低暗电流的P-I-N结构PbS光伏型探测器,在1300 nm波长处实现EQE为62%,在?0.1 V偏压下的暗电流密度为8.54 × 10?4 mA·cm?2,?3 dB带宽为324 kHz;设计了一种低噪声信号调理电路,在保持低噪声密度的同时将?3 dB带宽优化至337 kHz,使探测器输出的nA~μA级微弱光电流能够线性转换为0~3 V的标准电压信号,满足单像素成像(SPI)系统的要求。采用Hadamard正交编码技术实现空间光调制和信号编码;PbS量子点探测器采集并积分投影信号后,通过逆Hadamard正交解码算法重构出128 × 128分辨率的图像。本研究为基于量子点的短波红外成像提供了一种新方案,克服了传统阵列系统的成本和制造限制,为SPI技术的频谱扩展和实际应用奠定了基础。补充定量成像表征和低照度成像测试以验证系统的综合性能。
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