摘要
纳米材料的温度依赖性表征通常通过电学测量进行，许多温度传感应用同样依赖电学读出信号。尽管这些方法简单且应用广泛，但它们需要样品直接接触，并且在电学响应微弱、饱和或仅对温度弱依赖时可能失去灵敏度。在本研究中，使用光声 (PA) 测量系统来评估 AgNW 网络的温度依赖性响应。PA 测量系统检测光吸收后通过瞬态热弹性膨胀产生的超声波，这使得能够灵敏探测超越传统电学测量的温度依赖性光热响应。具有不同表面覆盖率的银纳米线 (AgNW) 薄膜是通过一到四次重复旋涂循环制备的，使用含有直径为 20–40 nm、长度为 10–20 μm 纳米线的 1% AgNW 乙醇分散液。使用定制的光声 (PA) 测量系统在各种温度下测量了所制备薄膜的光声 (PA) 信号，并与使用四探针获得的方阻值进行了比较。无论 AgNW 表面覆盖率如何，方阻和 PA 信号均随温度升高而增加。值得注意的是，具有较高表面覆盖率的 AgNW 薄膜在方阻中仅表现出弱的温度依赖性，但具有显著的温度依赖性 PA 响应。这些结果表明，PA 分析特别适用于表征具有较高表面覆盖率的 AgNW 网络，包括用于可拉伸电极的那些。所有样品在方阻和 PA 信号方面均显示出线性关系，决定系数 (R2) 超过 0.9。总体而言，这些发现表明 PA 测量可能提供关于温度依赖性行为的互补信息，而这些信息未完全反映在方阻测量中。
