摘要
零膨胀泊松（ZIP）模型已广泛应用于接近零缺陷过程的质量控制中，这些过程中存在零星的非合规现象。而以往的研究主要集中在针对单一缺陷类型的单变量ZIP过程上，然而现代的高精度制造环境常常涉及两个或更多相互关联的缺陷类别。本文提出了一种Shiryaev–Roberts（SR）控制图，用于检测双变量ZIP过程中的参数变化，并将其性能与现有的累积和（CUSUM）控制图在零状态和稳态两种情况下进行了比较。通过蒙特卡洛模拟，我们确定了两种方案的上控制限（h），同时保持了相同的在控平均运行长度（ARL），以确保公平比较。数值模拟表明，在稳态条件下，SR控制图在检测小到中等程度的参数变化时表现出比CUSUM控制图更优越的性能。该方法通过一个LED封装的案例研究得到了进一步验证，展示了其在先进制造质量保证中的实用性。
