针对 Trivium 流密码 ASIC 的激光诱导故障注入：一种可行的密钥恢复攻击

《IEEE Open Journal of the Solid-State Circuits Society》：Laser-Induced Fault Injection on Trivium Stream Cipher ASICs: A Feasible Attack for Key Recovery

　　

摘要：

新加密设备的持续发展及其在物联网（IoT）应用中的指数级增长，增加了这些设备抵御外部恶意攻击的安全风险，这些攻击可能会提取这些设备所处理的私人信息。访问物理存储于数百或数千个触发器中的这些硬件设备的秘密信息所需的分析，需要日益复杂的故障注入技术以及保护信息的加密算法的数学表述。了解密码在加密或解密操作期间触发器的逻辑状态将非常危险，因为这些状态可能被用于检索秘密信息。在本研究中，可以通过激光诱导的低能量（小于 1 nJ）故障的统计概率来获知触发器中存储的逻辑值。该机制用于确定集成 Trivium 流密码的 ASIC 的内部寄存器状态位。