电抗现象对均匀漏波天线性能的影响

《IEEE Transactions on Antennas and Propagation》：Impact of Reactive Phenomena on Performance of Uniform Leaky-Wave Antennas

　　

摘要：

本文深入分析了反应性现象对均匀泄漏波天线（LWA）性能的影响。推导了简单的解析表达式，用于定量评估泄漏模态（LM）功率衰减的来源：辐射泄漏、材料损耗（包括介质和金属损耗）以及反应性能量存储。通过定义相互关联的独立衰减常数来实现，这些常数可直接从LM的色散特性中提取。此外，本文所提出的理论与以往的方法进行了比较，展示了这些新型衰减常数定义在描述接近截止工作区域的LM方面的有效性。最后，通过两个均匀泄漏波天线的实际示例展示了该模型的适用性，强调了在整体性能评估中准确考虑反应性现象的重要性。