混合捕获时启动与移位时启动测试集的分区测试压缩

《IEEE Access》：Partitioned Test Compaction for Mixed Launch-on-Capture and Launch-on-Shift Test Sets

　　

摘要：

针对高级故障模型的扫描测试集在芯片制造后及芯片生命周期内检测缺陷方面是必需的。高级故障模型需要大量的测试集，而测试压缩对于减少测试数据量和测试应用时间至关重要。对于延迟故障模型，全面的扫描测试集可能包含捕获时启动（LOC）和移位时启动（LOS）两种类型的测试。早期的测试生成和测试压缩过程可以同时对混合测试集中的两种类型测试进行优化。这些过程被称为非分区测试压缩过程。本文提出，通过将故障集划分为子集 F₀（仅由 LOC 测试检测的故障）、F₁（仅由 LOS 测试检测的故障）和 F₂（由两种类型测试均可检测的故障）的测试压缩过程，可以实现额外的测试压缩。这种新的测试压缩过程被称为分区测试压缩过程，它根据 F₀ 优化 LOC 测试子集，并根据 F₁ 优化 LOS 测试子集。然后确保混合测试集能够检测到 F₂ 中的故障。测试压缩的收益来自于减少了对 F₂ 检测的重复。本文针对基准电路呈现了实验结果，以证明这种新的分区测试压缩过程的有效性。