《IEEE 设计与测试》本期导读:半导体技术演进下的设计、测试、安全与新兴计算架构探索

《IEEE Design & Test》:Next-Gen Trends in Design, Testing, and Security

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年09月11日 来源:IEEE Design & Test 2.0

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   显示全部 本期《IEEE 设计与测试》由六篇面向广泛读者的论文组成,涵盖了电子设计、测试、硬件安全以及新型计算架构等新兴领域的广泛话题。这些贡献共同反映了半导体技术的快速演进,以及跨学科方法在确保下一代计算系统的性能、可靠性、安全

  

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本期《IEEE 设计与测试》由六篇面向广泛读者的论文组成,涵盖了电子设计、测试、硬件安全以及新型计算架构等新兴领域的广泛话题。这些贡献共同反映了半导体技术的快速演进,以及跨学科方法在确保下一代计算系统的性能、可靠性、安全性和效率方面日益增长的重要性。此外,本期还收录了"最后字节"专栏文章,为读者提供了对近期社区活动及当前趋势的见解与观点。

本期论文的标题如下:

  • 《量子电路功能测试与验证综述》对量子电路的验证方法进行了全面回顾,解决了构建可靠量子计算系统所面临的关键挑战之一。

  • 《基于高级异构集成的芯粒封装测试》探讨了芯粒架构和先进封装技术带来的测试挑战。

  • 《侧信道与故障注入攻击实施安全度量挑战综述》对硬件实施的安全评估度量指标进行了广泛概述。

  • 《模拟硬件木马:一个被忽视的威胁》关注了模拟硬件木马带来的新兴安全风险。

  • 《FALCON:用于CNN加速的三端口FeFET查找表架构》介绍了一种基于铁电场效应晶体管(FeFET)技术的新型查找表架构,用于加速卷积神经网络。

  • 《忆阻器存内计算架构中的近似计算》探讨了忆阻器存内计算架构中的近似计算技术。

我们还要感谢Scott Davidson贡献的"最后字节"专栏文章《来自过去的模糊未来》。

我们希望本期刊物的论文在广度、深度和多样性方面都能为读者带来启发与收获。

希望各位喜欢阅读本期《IEEE 设计与测试》。

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