《Frontiers in Neurology》：Evaluation of tip fold over in 1,575 cochlear implant electrode arrays
编辑推荐：
目的：人工耳蜗（cochlear implant，CI）手术旨在实现电极阵列的无创插入，以保留残余听力并优化预后。尖端折叠（tip fold-over）是插入过程中的一种机械并发症，可能损害刺激有效性，并可能需要重新插入或翻修手术。本研究调查了植入多种CI电极
目的：人工耳蜗（cochlear implant，CI）手术旨在实现电极阵列的无创插入，以保留残余听力并优化预后。尖端折叠（tip fold-over）是插入过程中的一种机械并发症，可能损害刺激有效性，并可能需要重新插入或翻修手术。本研究调查了植入多种CI电极阵列设计的大型患者队列中尖端折叠的发生率、影响因素和诊断方法。
方法：研究人员对2013年至2024年间在弗赖堡大学医学中心耳鼻咽喉头颈外科接受CI手术的成年患者进行了回顾性分析。纳入的电极阵列来自Cochlear?（Slim Straight [SSA]、Slim Modiolar [SMA]、Contour Advance [CA]）、MED-EL（FlexSoft、Flex28、Flex26、Flex24）和Advanced Bionics（SlimJ、Mid Scala [MS]）。对手术报告、术中电生理数据和术后影像学进行了详细审查，并由至少两名评估者独立评估。诊断影像学方式包括锥形束计算机断层扫描和数字容积断层扫描（DVT）。
结果：在1,575只植入耳中，检测到13例尖端折叠，总发生率为0.83%。值得注意的是，其中10例发生于预弯蜗轴旁电极阵列（SMA和CA，Cochlear?；MS，Advanced Bionics），而只有3例发生于直侧壁设计（SSA，Cochlear?）。在MED-EL的任何电极阵列或Advanced Bionics的SlimJ电极阵列中均未观察到尖端折叠事件。术中跨阻矩阵（TIM）分析和术中X射线在解剖正常的病例中可靠地检测到了尖端折叠。
结论：电极阵列设计显著影响尖端折叠风险。与柔性直电极阵列相比，蜗轴旁电极阵列可能观察到更高的发生率。本研究强调了术中诊断的重要性。TIM分析和术中X射线成像在实时检测尖端折叠事件方面被证明有效，允许立即采取纠正措施并避免翻修手术。这项大规模回顾性研究证实，尖端折叠仍然是CI手术中罕见但重要的并发症，在预弯蜗轴旁电极阵列中患病率较高。本研究强调需要对所有CI系统保持持续警惕。
人工耳蜗（cochlear implant，CI）手术追求电极阵列的无创插入，以保存残余听力并提升听觉康复效果。然而，电极插入过程中可能发生尖端折叠（tip fold-over），即电极尖端向后折返，导致耳蜗创伤、刺激异常以及插入深度不足，严重时需重新插入甚至翻修手术。已有报告显示不同电极设计的折叠风险存在差异，但大样本的系统性数据仍较缺乏。为明确尖端折叠的发生率、影响因素和最佳诊断策略，
