《Plant Stress》:Pan?genomic stratification and multi?dimensional regulatory characterization of immune receptors suggest growth-defense co-regulation during development and pathogen stress in mulberry (
Morus spp.)
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免疫受体(immune receptors)包括细胞内NLR(核苷酸结合富亮氨酸重复受体)和细胞表面PRR(模式识别受体,即受体样激酶(RLK)和受体样蛋白(RLP)),是植物防御系统的基石。与一年生作物不同,像桑树(Morus spp.)这样的多年生木本工业
免疫受体(immune receptors)包括细胞内NLR(核苷酸结合富亮氨酸重复受体)和细胞表面PRR(模式识别受体,即受体样激酶(RLK)和受体样蛋白(RLP)),是植物防御系统的基石。与一年生作物不同,像桑树(Morus spp.)这样的多年生木本工业植物面临持续而复杂的生物胁迫;然而,对桑树免疫组库的系统研究仍然匮乏。本研究利用28个高质量基因组,首次提供了桑树免疫受体基因的泛基因组图谱。共鉴定出20,853个免疫受体基因,并将其分层为核心(Core)和可缺失(Dispensable)基因。研究人员发现,RLP和NLR的变异性显著高于RLK,为病原识别提供了多样化的储存库。转录组分析突出了免疫受体基因高度动态且依赖于条件的表达模式,其中19个候选基因对真菌病原体桑实杯盘菌(Ciboria shiraiana)表现出剧烈的转录响应。结合选择压力分析,研究人员揭示了一种严格的泛基因组分层策略:核心(Core)基因在强净化选择下维持基础免疫和发育,而可缺失(Dispensable)基因在松弛约束下表现出组织特异性优先表达,作为“空间哨兵”来对抗局部病原体。关键的是,研究人员分析发现,免疫受体基因扩增的主要模式是分散重复,而非传统的串联重复;同时,拷贝数变异(CNV)和转座元件(TE)插入与免疫组库的进一步多样化密切相关。此外,加权基因共表达网络分析(WGCNA)鉴定出系统性调控枢纽,包括FERONIA和WAKL10/14,它们协调生长-防御共调控转录网络。本研究构建了桑树免疫受体的全面景观,为长寿木本植物进化提供了见解,并为针对复杂生物胁迫的精准抗病育种提供了基因资源。
《Plant Stress》论文解读:桑树免疫受体的泛基因组分层与生长-防御协同调控
植物病害造成全球农作物产量损失20%–30%,多年生木本经济植物如桑树(Morus spp.)面临持续而复杂的生物胁迫,如细菌性疫病、白粉病和叶斑病等,严重时可导致叶片减产15%–20%;由真菌桑实杯盘菌(Ciboria shiraiana)引起的“ popcorn disease”更可造成60%–90%的果实产量损失。然而,以往对桑树免疫受体家族的研究多局限于少数家族或单一基因组,缺乏系统性的泛基因组解析。为此,研究人员利用28个高质量桑树基因组(涵盖8个物种)开展了免疫受体基因的泛基因组分析,构建了首张桑树免疫受体图谱,相关成果发表在《Plant Stress》。研究人员共鉴定出20,853个免疫受体基因,包括13,370个受体样激酶(RLKs)、5,297个核苷酸结合富亮氨酸重复受体(NLRs)和2,186个受体样蛋白(RLPs),并将其划分为核心(Core)与可缺失(Dispensable)基因。通过整合多组织转录组、选择压力、基因复制、转座子及共表达网络分析,揭示了免疫受体基因的扩张模式、进化分层及其与发育和防御调控的关联。研究发现,分散重复是免疫受体基因扩增的主要模式,而非传统认为的串联重复;转座元件插入与拷贝数变异密切相关。共表达网络分析鉴定出FERONIA和WAKL10/14等枢纽免疫受体基因,表明它们参与协调生长-防御共调控转录网络。这些结果不仅为多年生木本植物的免疫进化提供了新见解,也为针对复杂生物胁迫的精准抗病育种提供了基因资源。
关键技术方法:研究人员从公开数据库获取了已发表的桑树基因组(包括M. notabilis、M. yunnanensis、ZS5801、ZZB、M. indica、M. alba 'Heyebai'等),并补充了14个自组装基因组,共形成28个高质量基因组。转录组数据来自四个桑树品种:TWCGS(23个条件,涵盖桑实杯盘菌接种后0h、4h、1d、4d和7d,果实发育15个阶段及营养组织)、ZS5801(7个条件)、CQ109(8个条件)和ZZB(5个条件),每个条件设三个生物学重复。方法上,利用RGAugury和HMMER鉴定免疫受体基因,OrthoFinder推断直系同源群,Shannon熵评估氨基酸多样性,MCScanX分析基因复制类型,HiTE识别转座元件,ParaAT计算K
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