基于 0.18 微米 SiGe BiCMOS 工艺的 3.5 至 12.5 GHz 差分 6 位双向移相器,具有 3°/0.48 dB 均方根相位/增益误差

《IEEE Microwave and Wireless Technology Letters》:A Differential 3.5-to-12.5 GHz 6-bit Bi-Directional Phase Shifter With 3°/0.48 dB RMS Phase/Gain Errors in 0.18-μm SiGe BiCMOS

【字体: 大 中 小 】 时间:2026年09月15日 来源:IEEE Microwave and Wireless Technology Letters 3.4

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   摘要:本论文提出了一种用于相控阵的差分3.5–12.5 GHz 6位双向移相器(Bi-PS)。所提出的Bi-PS包含基于变压器的正交信号发生器、两级幅度均衡网络(AEN)以及可实现精确矢量调制的双相增益调制阵列(BP-GMA)。在AEN中,所提出的均衡拓扑结构在三个频点上实

  

摘要:

本论文提出了一种用于相控阵的差分3.5–12.5 GHz 6位双向移相器(Bi-PS)。所提出的Bi-PS包含基于变压器的正交信号发生器、两级幅度均衡网络(AEN)以及可实现精确矢量调制的双相增益调制阵列(BP-GMA)。在AEN中,所提出的均衡拓扑结构在三个频点上实现了正交信号的增益平衡,扩展了增益一致性的频率范围,从而实现了宽带高精度正交信号生成。所提出的Bi-PS采用HHGRACE 0.18- μ m SiGe BiCMOS工艺实现,具有360°相移范围、通过直接数字控制实现的5.625°分辨率,以及<1 mW直流功耗。测量结果显示,在3.5–12.5 GHz带宽内,均方根相位误差为3° ~ 5.57° ,均方根增益误差为0.48~1.15 dB,输入P 1dB 高于15 dBm。芯片面积(含焊盘)为2.6 mm 2 。
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