经颅直流电刺激研究中假刺激基线假设的检验:基于面孔倒置效应的证据
《Brain Sciences》:Anodal Transcranial Direct Current Stimulation (TDCS) at Fp3–Fp2 Reduces the Face Inversion Effect: Evidence Against an Expectancy Account
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时间:2026年09月22日
来源:Brain Sciences 3.4
摘要
背景:通过Fp3–Fp2布局施加的阳极经颅直流电刺激(tDCS)可降低面孔倒置效应(FIE),这一结果目前被用来论证面孔识别基于知觉专长。由于对脑部刺激的信念可以在不存在电流的情况下改变行为,该领域的文献建立在一个从未被检验的前提之上:其假刺激条件提供了一个中性基线。本研究的目的是检验这一前提,即确定参与tDCS研究与不进行研究相比,是否会改变该范式中的表现。方法:参与者(n = 96,每组32人)完成了涉及正立和倒置面孔的新旧辨认任务。阳极刺激组和假刺激组在双盲程序下进行,使两组的参与者都知道自己可能正在接受主动刺激;第三组无tDCS组在相同时间表下完成相同的任务,但不佩戴电极,也不提及刺激。结果:阳极tDCS相对于两个对照组均将FIE减少了一半(M = 0.23 vs. 0.55和0.56),其中F(2, 93) = 9.99,p < 0.001,ηp2 = 0.18,其机制为对正立面孔辨认能力的损害,其中p < 0.001;对倒置面孔的敏感度未受影响,其中p = 0.983。假刺激组和无tDCS组在所有测量指标上表现一致,且该比较的所有贝叶斯因子均支持零假设(BF = 0.18–0.27)。结论:在本研究所采用的范式和程序范围内,参与tDCS研究时所伴随的信念并未改变表现。因此,Fp3–Fp2位置的阳极tDCS对FIE的降低不太可能是期望效应,该领域文献中广泛使用的假刺激对照可被视为有效基线。
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